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中科君芯 > 测试平台
设备名称:半导体功率器件动态测试系统
生产厂商:ITC
功能简介: 该设备用于测试功率器件的动态参数,如开关时间、栅电荷、反向恢复时间、短路耐量等参数 性能简介: 最大电压1200Vdc,最大电流200A;短路耐量峰值电流400A

设备名称:半导体功率器件静态测试系统
生产厂商:Tesec
功能简介: 该设备用于测试功率器件的静态参数,如击穿电压、阈值电流、漏电流、导通电阻等 性能简介: 电压最大1200V,电流200A

设备名称:半导体功率器件动态测试系统
生产厂商:Tesec
功能简介: 该设备用于测试功率器件的动态参数,如阻性开关时间、感性开关时间、反向恢复等 性能简介: 电压最大1500V,电流300A


设备名称:半导体功率器件热阻测试系统
生产厂商:Tesec
功能简介: 该设备用于测试功率器件的瞬态热阻 性能简介: 最大电压200V,电流50A


设备名称:稳态热阻测试系统
生产厂商:ANALYSIS TECH
功能简介: 该设备用于测试功率器件的稳态热阻、瞬态热阻、结构函数、安全工作区等 性能简介: 最大电压50V,电流20A,延迟时间小于40us


设备名称:半导体功率器件雪崩能量测试系统
生产厂商:ITC
功能简介: 该设备用于测试功率器件的雪崩耐量 性能简介: 雪崩探测电压2500V,电流400A;0.001~159.9mH可变电感箱

设备名称:半导体功率器件雪崩能量测试系统
生产厂商:Tesec
功能简介: 该设备用于测试功率器件的雪崩耐量 性能简介: 电压200V,电流100A


设备名称:半导体功率器件栅电荷测试系统
生产厂商:ITC
功能简介: 该设备用于测试功率器件的栅电荷 性能简介: 最大电压100V,电流100A


设备名称:大功率半导体管特性图示仪
生产厂商:上海新建
功能简介: 该设备用于测试功率器件的输出特性曲线、击穿曲线等 性能简介: 电压最大2000V 电流20A

设备名称:高压大电流图示仪
生产厂商:IWATSU
功能简介: 该设备用于测试功率器件的输出特性曲线,击穿曲线、阈值电压曲线等各类功率器件特性曲线 性能简介: 电压最大3000V,电流400A

设备名称:8寸半自动测试探针台
生产厂商:美国Teala
功能简介: 该设备用于与半导体功率器件静态测试系统、图示仪结合使用,测试圆片的静态参数 性能简介: 8寸、6寸兼容;测试平台温度范围:-60℃-200℃;磁性探针座:4个 平台最大支持电压: 10KV

设备名称:小探针台
生产厂商:深圳矽电
功能简介: 该设备用于与半导体功率器件静态测试系统结合使用,测试圆片的静态参数 性能简介: 适用于6寸探针台自动测试

设备名称:LCR测试系统
生产厂商:惠普
功能简介: 该设备用于测试功率器件的电容、电感、电阻 性能简介: 最大偏置电压100V

设备名称:安捷伦精准LCR表
生产厂商:安捷伦
功能简介: 该设备用于测试功率器件的电容、电感、电阻 性能简介: 最大电压200V,频率范围75k-30MHz

设备名称:超低温温箱
生产厂商:中科美菱
功能简介: 该设备用于分析器件低温特性 性能简介: 温度从-60℃至0℃

设备名称:可靠性综合测试分析系统
生产厂商:中科院
功能简介: 该设备用于可以测试功率器件的峰值结温、峰值热阻、结温分布等参数 性能简介: 测量电流1mA-100mA可调,至少8阶梯任意可调;施加功率范围:电压1-200V,电流1mA-5A


设备名称:半导体功率器件动态测试系统
生产厂商:日本Tesec
功能简介: 该设备用于测试功率器件的动态参数,如感性开关时间、反向恢复等,短路耐量等 性能简介: 开关参数及Trr测试能力:电压1500V 电流300A 短路耐量:电压1500V 电流2000A




设备名称:诺泰分选机
生产厂商:深圳诺泰
功能简介: 该设备用于自动测试各封装形式的功率器件 性能简介: 可测试封装形式包含TO-220/TO-247/TO-264




设备名称:半导体功率器件高压静态测试系统
生产厂商:Wen Micro
功能简介: 该设备可用于测试半导体功率器件的静态参数,如击穿电压、阈值电流、漏电流、导通电阻等 性能简介: 最大电压10000V 最大电流 3000A

设备名称:半导体功率器件高压动态测试系统
生产厂商:Wen Micro 功能简介: 该设备可用于测试半导体功率器件的动态参数,如感性开关参数,阻性开关参数,反向恢复,短路耐量,栅电荷等; 性能简介: 最大电压4000V  最大电流 3000A