设备名称：半导体功率器件动态测试系统

生产厂商：ITC

功能简介：

该设备用于测试功率器件的动态参数，如开关时间、栅电荷、反向恢复时间、短路耐量等参数

性能简介：

最大电压1200Vdc，最大电流200A；短路耐量峰值电流400A

设备名称：半导体功率器件静态测试系统

生产厂商：Tesec

功能简介：

该设备用于测试功率器件的静态参数，如击穿电压、阈值电流、漏电流、导通电阻等

性能简介：

电压最大1200V，电流200A

设备名称：半导体功率器件动态测试系统

生产厂商：Tesec

功能简介：

该设备用于测试功率器件的动态参数，如阻性开关时间、感性开关时间、反向恢复等

性能简介：

电压最大1500V，电流300A

设备名称：半导体功率器件热阻测试系统

生产厂商：Tesec

功能简介：

该设备用于测试功率器件的瞬态热阻

性能简介：

最大电压200V，电流50A

设备名称：稳态热阻测试系统

生产厂商：ANALYSIS TECH

功能简介：

该设备用于测试功率器件的稳态热阻、瞬态热阻、结构函数、安全工作区等

性能简介：

最大电压50V，电流20A，延迟时间小于40us

设备名称：半导体功率器件雪崩能量测试系统

生产厂商：ITC

功能简介：

该设备用于测试功率器件的雪崩耐量

性能简介：

雪崩探测电压2500V，电流400A；0.001~159.9mH可变电感箱

设备名称：半导体功率器件雪崩能量测试系统

生产厂商：Tesec

功能简介：

该设备用于测试功率器件的雪崩耐量

性能简介：

电压200V，电流100A

设备名称：半导体功率器件栅电荷测试系统

生产厂商：ITC

功能简介：

该设备用于测试功率器件的栅电荷

性能简介：

最大电压100V，电流100A

设备名称：大功率半导体管特性图示仪

生产厂商：上海新建

功能简介：

该设备用于测试功率器件的输出特性曲线、击穿曲线等

性能简介：

电压最大2000V  电流20A

设备名称：高压大电流图示仪

生产厂商：IWATSU

功能简介：

该设备用于测试功率器件的输出特性曲线，击穿曲线、阈值电压曲线等各类功率器件特性曲线

性能简介：

电压最大3000V，电流400A

设备名称：8寸半自动测试探针台

生产厂商：美国Teala

功能简介：

该设备用于与半导体功率器件静态测试系统、图示仪结合使用，测试圆片的静态参数

性能简介：

8寸、6寸兼容；测试平台温度范围：-60℃-200℃；磁性探针座：4个

平台最大支持电压： 10KV

设备名称：小探针台

生产厂商：深圳矽电

功能简介：

该设备用于与半导体功率器件静态测试系统结合使用，测试圆片的静态参数

性能简介：

适用于6寸探针台自动测试

设备名称：LCR测试系统

生产厂商：惠普

功能简介：

该设备用于测试功率器件的电容、电感、电阻

性能简介：

最大偏置电压100V

设备名称：安捷伦精准LCR表

生产厂商：安捷伦

功能简介：

该设备用于测试功率器件的电容、电感、电阻

性能简介：

最大电压200V，频率范围75k-30MHz

设备名称：超低温温箱

生产厂商：中科美菱

功能简介：

该设备用于分析器件低温特性

性能简介：

温度从-60℃至0℃

设备名称：可靠性综合测试分析系统

生产厂商：中科院

功能简介：

该设备用于可以测试功率器件的峰值结温、峰值热阻、结温分布等参数

性能简介：

测量电流1mA-100mA可调，至少8阶梯任意可调；施加功率范围：电压1-200V，电流1mA-5A

设备名称：半导体功率器件动态测试系统

生产厂商：日本Tesec

功能简介：

该设备用于测试功率器件的动态参数，如感性开关时间、反向恢复等，短路耐量等

性能简介：

开关参数及Trr测试能力：电压1500V 电流300A    短路耐量：电压1500V 电流2000A

设备名称：诺泰分选机

生产厂商：深圳诺泰

功能简介：

该设备用于自动测试各封装形式的功率器件

性能简介：

可测试封装形式包含TO-220/TO-247/TO-264

设备名称：半导体功率器件高压静态测试系统

生产厂商：Wen Micro

功能简介：

该设备可用于测试半导体功率器件的静态参数，如击穿电压、阈值电流、漏电流、导通电阻等

性能简介：

最大电压10000V  最大电流 3000A

设备名称：半导体功率器件静态测试系统

生产厂商：美国STI

功能简介：

该设备用于测试功率器件的静态参数，如击穿电压、阈值电流、漏电流、导通电阻等

性能简介：

最大电压2000V 最大电流100A